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IC EMC发射测试系统
仪器分类:
浏览量: 发布时间:
所在地:天津
服务承诺:客户至上 如实描述
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  • 仪器信息
    规格型号 :
    ESR7、FLS 106-IC、FCC-TEM-JM5等
    设备原值 :
    180(万元)
    产地国别 :
    德国
    学科领域 :
    技术指标 :
    (配件及检测器) IC EMC发射测试的频率范围:150kHz~1GHz
    主要功能 :
    (检测项目) IC TEM小室法辐射发射 IC 表面扫描法辐射发射 IC 1Ω/150Ω直接耦合法传导发射
    服务信息
    服务内容 :
    ★ 主要功能 (检测项目) IC TEM小室法辐射发射 IC 表面扫描法辐射发射 IC 1Ω/150Ω直接耦合法传导发射 ★ 应用范围 (样品名称、相关标准) IC芯片- IEC 61967-2: 2005集成电路——电磁发射的测量,150kHz~1GHz——第2部分:辐射发射测量——TEM小室和宽带TEM小室测量法 IC芯片- IEC 61967-3: 2005集成电路——电磁发射的测量,150kHz~1GHz——第3部分:辐射发射测量——表面扫描测量法
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      吴月 

      13011300329 

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