仪器信息
规格型号 :
JEMF200
设备原值 :
580.0（万元）
产地国别 :
日本
学科领域 :
材料科学
技术指标 :
点分辨率：≤0.23nm@200KV； 线分辨率：≤0.10nm@200KV；信息分辨率：≤0.12nm@200KV能量分辨率：≤0.70eV
主要功能 :
材料微观形貌以及结构分析
服务信息
服务内容 :
应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析；各种材料微区化学成分的定性和半定量检测；粉末、纳米粒子形态和粒度测定以及复合材料界面特性的研究。
收费标准 :
电话沟通商议
用户须知 :
工作日
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毛晶
18322725973
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