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仪器分类:
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发布时间:
所在地:天津
服务承诺:
客户至上 如实描述
产品详情
服务评价
成交记录
仪器信息
规格型号 :
DektakXT
设备原值 :
80(万元)
产地国别 :
美国
学科领域 :
技术指标 :
详见下图
主要功能 :
探针式轮廓仪最大可测量尺寸为200mm,测量台阶高度重复性优于0.5nm,垂直方向分辨率可达0.1nm,可进行三维测量及数据分析。
服务信息
服务内容 :
可在微电子、半导体、太阳能、LED和材料科学等方面提供纳米级表面精确测量。
收费标准 :
用户须知 :
无
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李康
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