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仪器分类:
工艺试验仪器>电子工艺实验设备>半导体集成电路工艺实验设备
享受政策:
浏览量:
发布时间:
所在地:天津
服务承诺:
客户至上 如实描述
产品详情
服务评价
成交记录
仪器信息
规格型号 :
HCP-O-2
设备原值 :
57.0(万元)
产地国别 :
中国
学科领域 :
化学
技术指标 :
温度范围:-190℃~400℃(负温需配液氮制冷)加热块材质:银传感器/温控方式:100Ω铂RTD/PID控制(含LVDC降噪电源)升温速率:120℃/min(at100℃)温控速度:±0.01℃/m
主要功能 :
为晶体管器件的电学参数测试提供一个不同温度的真空测试环境
服务信息
服务内容 :
真空探针台是一种精密的测试设备,由高真空台体、闭循环控温系统、显微观察组件、开尔文探针及分子泵组等组成,能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个不同温度的真空测试环境,通过外接不同的电学测量仪器,可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测,用于不同温度真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试,此系统广泛应用于半导体产业中。
收费标准 :
电话沟通商议
用户须知 :
工作日
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杨辉
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