技术指标 :
以下定位系统数据是SVET和LEIS模块实现高精度扫描的基础。
扫描范围 (X, Y, Z):100 mm × 100 mm × 100 mm(部分早期型号为50mm × 50mm × 50mm)
扫描分辨率 (X, Y, Z):≤ 1 nm
线性位移编码分辨率:50 nm
最大扫描速度:10 mm/s
各模块详细技术指标与功能
SVET (扫描振动电极测试模块)
核心技术参数
硬件配置:集成独立的Signal Recovery锁相放大器(如7230型号)。
频率范围:0.001 Hz – 250 kHz。
灵敏度 (电压):10 nV – 1 V。
振动幅度:0 – 30 μm。
静电计增益:1倍 – 10000倍。
LEIS (微区电化学阻抗测试模块)
核心技术参数
硬件配置:整合定位系统、VersaSTAT 3F恒电位仪(带差分选项)、静电计和双探头探针。
频率范围:10 μHz – 1 MHz。
交流振幅范围:0.1 mV – 1 V (部分资料为优于0.2 mV–1V)。
显示模式:支持阻抗线扫、面扫、点频率扫描,以及Bode图和Nyquist图
主要功能 :
SVET (扫描振动电极测试模块)
主要功能与应用
基本原理:通过测量由样品表面局部离子电流引起的溶液中电压降,来绘制局部电流密度分布图。
核心用途:非破坏性地原位表征材料在溶液中的局部腐蚀行为,如点蚀、电偶腐蚀、焊接区腐蚀等。
成像模式:支持线扫描和面扫描,并可进行时间分辨成像。
LEIS (微区电化学阻抗测试模块)
主要功能与应用
基本原理:测量施加于样品的交流电压与探针处交流电流的比值,来获得具有高空间分辨率的局部阻抗谱(LIS)。
核心用途:表征有机涂层的局部性能、评估裸露金属的腐蚀行为、研究局部电化学过程的动力学等。
技术优势:采用双探头设计(如Pt/Ir针-Pt环),对电极随探针一起移动,能有效消除溶液电阻的测量误差。