所有产品 > 仪器设备 > 仪器共享
产品信息图片
半导体参数测试仪
仪器分类:分析仪器>电子光学仪器>其他
浏览量: 发布时间:
所在地:天津
服务承诺:客户至上 如实描述
  • 产品详情
  • 服务评价
  • 成交记录
  • 仪器信息
    规格型号 :
    4200A-SCS
    设备原值 :
    64(万元)
    产地国别 :
    美国
    学科领域 :
    物理学,材料科学
    技术指标 :
    I-V测量电压范围:≥±200V;I-V测量电流范围:≥0.1A;I-V测量电压分辨率:≤5μV;I-V测量电流分辨率:≤100fA
    主要功能 :
    可实现器件I-V曲线和C-V曲线、场效应的测量,能够测量出半导体器件的转移特性曲线。
    服务信息
    服务内容 :
    测试半导体电学参数
    收费标准 :
    院内200/小时、校内300/小时、校外500/小时
    用户须知 :
    按照《南开大学大型仪器设备管理办法》执行
      联系我们

      刘智波 

      18622278942 

      更多推荐