仪器信息
规格型号 :
X’Per Pro
设备原值 :
160（万元）
产地国别 :
荷兰
学科领域 :
物理学
技术指标 :
功率：1.8KW
管压：15～45KV
管流：5～40mA
测角仪精密度：±0.001°（2θ）
主要功能 :
主要用途：可进行粉末及薄膜样品的晶体结构分析，,可以进行掠入射晶体结构分析
服务信息
服务内容 :
光学领域分析测试
收费标准 :
请与仪器负责人联系
用户须知 :
按照《南开大学大型仪器设备管理办法》执行
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刘芳芳
13902188782
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