仪器信息
规格型号 :
Dimension Icon
设备原值 :
161.4（万元）
产地国别 :
美国
学科领域 :
航空、航天科学技术,航空航天领域
技术指标 :
Icon 支持Bruker专利技术PeakForce QNM?成像模式，研究者在获得高分辨率形貌图像的同时，还可以对样品进行纳米定量力学性能测试，同时获得高分辨成像。此技术适用范围很广(模量从 1MPa到50GPa，粘附力从10pN到10μN)，可以对不同类型的样品进行表征。
主要功能 :
Icon 支持Bruker专利技术PeakForce QNM?成像模式，研究者在获得高分辨率形貌图像的同时，还可以对样品进行纳米定量力学性能测试，同时获得高分辨成像。此技术适用范围很广(模量从 1MPa到50GPa，粘附力从10pN到10μN)，可以对不同类型的样品进行表征。 专利模式，可以以更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。把这些研究与其他技术结合起来，比如Dark Lift，可在扫描电容显微镜，扫描扩散电阻显微镜，扭转共振隧道电流原子力显微镜中获得真正的无假象数据。 可实现在纳米和分
服务信息
服务内容 :
无
收费标准 :
无
用户须知 :
无
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姚佳伟
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