规格型号 :

Axis Supra+

设备原值 :

483.0（万元）

产地国别 :

英国

学科领域 :

化学,化学工程,材料科学

技术指标 :

射线源类型：水冷Ag靶射线源（与单色化Al共处一个靶面上），可更换至少8个Al新鲜靶点和至少4个Ag新鲜靶点，软件驱动更换新靶点； 最大功率：不小于500W，加速电压不低于15Kv Al单色指标最佳能量分辨和灵敏度：0.45Ev@160kcps 荷电中和器类型：全自动单电子源同轴荷电中和器 最佳能量分辨率和灵敏度（PET）： 0.68eV（O-C=O 的C 1s）@35kcps（C-C的C 1s） 检测器：多通道板（MCP）和双层128物理通道的二维阵列延迟线检测器2)（DLD） 采谱模式宽/窄扫描谱：顺序能量扫描； 快照采谱：非扫描模式的数秒即得；从图得谱：利用一系列顺序能量的光电子平行图像，在某一像素点上重构该点光电子能谱，空间分辨优于1μm（200×200μm2视场）； 快速平行成像空间分辨：优于1µm（锐利刀口样品，信号强度80～20%的线宽度）； 视场大小：800×800/400×400/200×200μm2； 像素：最大256×256；扫描成像； 束斑大小：可选15µm或27µm； 真空泵：400升/秒涡轮分子泵； 真空度：烘烤后优于7×10-7Pa 深度剖析离子枪单离子模

主要功能 :

X射线光电子能谱仪(XPS)为高性能、高效率的紧凑型XPS分析系统，可应用于几乎所有表面问题的研究，可用于定性和定量分析除H、He以外所有表面元素，分析样品1~10nm表面元素分布、元素价态、成像分析等。例如纳米材料、生物医学、半导体、集成电路等领域，是开展高水平分析测试及新材料研发工作不可或缺的仪器。

服务内容 :

材料表层元素价态、定性、半定量分析/微区刻蚀深度元素分析/价带谱分析/成像和面分布

收费标准 :

宽扫650（包含C元素）/样品，窄扫150/元素

用户须知 :

粉末样品提供20-30mg，体积一般铺满离心管尖端即可；块状及薄膜样品，长宽厚不超出5*5*3mm；纤维样品及易氧化样品建议当面送样。如果样品尺寸偏大，会按多个样品收费；默认一个样品只测试一个位置，需要测试多个位置将按照多个样品计费；块体和薄膜需要注明测试面；同一元素如需测试多个轨道峰，也算作多个元素。