仪器信息
规格型号 :
Themis G2 60-300
设备原值 :
1745.44（万元）
产地国别 :
美国
学科领域 :
材料科学,化学,能源科学技术
技术指标 :
具备聚光镜球差校正器；
EELS能量分辨率：优于0.35 eV (300 kV)；
透射电子显微（TEM）模式的点分辨率：优于0.22 nm (300 kV)；
HAADF分辨率：300 kV时0.06 nm，60 kV时优于0.136 nm；
具备Super X能谱仪系统；
极靴间距5.4 mm；
具备Enfinium ER Model 977系统一套，拥有Dual EELS功能、 EDS/EELS同时高速采谱功能；
具备分割式STEM探头。
主要功能 :
STEM模式能够对无机材料结构进行亚埃尺度（<0.1 nm）的表征和分析；
能利用高角度环形暗场（HAADF）、环形明场（ABF）、能谱（EDS）、电子能量损失谱（EELS）等技术直接观察无机材料中轻、重原子的位置和排布情况，并获得相应的化学环境和电子结构信息；
可对无机材料进行形貌和成分的三维重构；
可对无机材料进行差分相位衬度（DPC）分析；
可表征无机材料中的原子间电场分布；
可对无机材料进行常规的形貌、成分、衍射、高分辨结构等分析。
服务信息
服务内容 :
STEM模式能够对无机材料结构进行亚埃尺度（<0.1 nm）的表征和分析；
能利用高角度环形暗场（HAADF）、环形明场（ABF）、能谱（EDS）、电子能量损失谱（EELS）等技术直接观察无机材料中轻、重原子的位置和排布情况，并获得相应的化学环境和电子结构信息；
可对无机材料进行形貌和成分的三维重构；
可对无机材料进行差分相位衬度（DPC）分析；
可表征无机材料中的原子间电场分布；
可对无机材料进行常规的形貌、成分、衍射、高分辨结构等分析。
收费标准 :
校内1300元/小时，校外：2200元/小时
用户须知 :
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刘锐锐
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