所有产品 > 仪器设备 > 仪器共享
产品信息图片
微区形貌扫描分析仪
仪器分类:分析仪器>电子光学仪器>扫描电镜
浏览量: 发布时间:
所在地:天津
服务承诺:客户至上 如实描述
  • 产品详情
  • 服务评价
  • 成交记录
  • 仪器信息
    规格型号 :
    Phenom XL
    设备原值 :
    114.8(万元)
    产地国别 :
    荷兰
    学科领域 :
    化学,材料科学,机械工程
    技术指标 :
    PhenomXL,环境样品表面微观分析,电子放大≥200,000倍,二次电子探测器分辨率:≤8nm@10KV;
    主要功能 :
    样品表面形貌快速检测
    服务信息
    服务内容 :
    1.对各种固体样品表面进行高分辨形貌观察,提供样品亚微米、纳米尺寸的高分辨图像; 2.支持自动或手动进行元素谱峰识别,并具备可视化峰剥离技术以验证重叠峰识别的正确性。
    收费标准 :
    电话沟通商议
    用户须知 :
    工作日
      联系我们

      黄建军 

        

      更多推荐