规格型号 :

Themis Z

设备原值 :

2712.57（万元）

产地国别 :

捷克

学科领域 :

化学,材料科学,能源科学技术,化学工程

技术指标 :

1.电子光学系统 *1.1.加速电压：30kV – 300kV； *1.2.合轴文件：30kV（or 40kV），60kV，300kV； 2.分辨率 *2.1.TEM信息分辨率：≤60pm@300kV

主要功能 :

Themis Z G3 是赛默飞世尔科技推出的高端球差校正扫描透射电子显微镜（S/TEM），集超高分辨成像、原子尺度谱学分析、多物理场表征与 4D-STEM 功能于一体，可在 60–300 kV 宽电压范围内实现亚埃级结构解析与精准化学表征，是面向前沿科学研究与高端工业检测的核心表征平台。 仪器搭载双球差校正器与高亮度电子源，TEM/STEM 模式均具备原子级分辨率，可直接观测材料晶格结构、缺陷、位错、界面与纳米形貌。配备单色器系统，大幅提升 EELS 能量分辨率，可开展电子结构、化学键合、价态与声子振动分析；搭配 Super‑X 四象限 EDS 能谱，实现轻元素至重元素的快速、定量、原子尺度元素面分布 mapping，满足成分精准分析需求。 该仪器支持低电压高分辨模式，有效降低电子束对二维材料、高分子、催化剂等敏感样品的辐照损伤，可清晰分辨 C、N、O、B 等轻元素原子柱，适用于石墨烯、MXene、TMDs 等低维材料的缺陷、掺杂与异质结表征。同时集成 DPC/iDPC 差分相位衬度、洛伦兹磁学模式与 4D-STEM 功能，可实现局域电场、磁场、磁畴结构、晶体取向、应力 / 应变及极

服务内容 :

Themis Z G3 球差校正扫描透射电镜主要面向高校、科研院所及企业提供原子级高精度表征服务。可开展先进材料、半导体器件、二维材料、能源催化及磁性量子材料的微观结构、元素分布与化学态分析，支持缺陷表征、界面分析、失效定位及原位动态观测。依托高分辨成像、EDS/EELS 谱学及 4D‑STEM 定量技术，为材料研发、工艺优化、机理研究与科研创新提供多维度、高水平测试支撑。

收费标准 :

电话沟通商议

用户须知 :

工作日