规格型号 :

inVia Raman Microscope

设备原值 :

265（万元）

产地国别 :

英国

学科领域 :

材料科学,信息科学与系统科学

技术指标 :

1.显微拉曼和荧光光谱仪能够与现有安捷伦原子力探测系统联用。 2. 532nm激发波长，激光器功率不低于50mW；785nm激发波长，激光器功率不低于280mW。 3.光谱范围：200nm 到1060nm，全光谱范围内可快速连续扫描，无接谱。 4. 高灵敏度：硅三阶峰（约在1440 cm-1）的信噪比好于22:1，并能观察到四阶峰。 5. CCD探测器：必须使用紫外和近红外同时增强型CCD探测器，优质芯片，半导体制冷到-70 摄氏度。 6. 智能控制功能，厂家工程师在必要时可通过互联网实现远程自动调整及优化。 7.空间分辨率：在x100倍镜头下，横向分辨率<0.5微米，光轴方向纵向分辨率< 2微米，共焦深度连续可调。 8.高精度三维拉曼扫描成像样品台。 9.高空间分辨率快速拉曼扫描成像技术。 10.冷热台：温度范围从-196 到 600摄氏度，控温精度0.1摄氏度。

主要功能 :

无

服务内容 :

半导体材料微区的结构信息、光学特性、半导体禁带宽度等特性

收费标准 :

无

用户须知 :

无