仪器信息
规格型号 :
ES01A-DUV
设备原值 :
100（万元）
产地国别 :
中国
学科领域 :
技术指标 :
详见下图
主要功能 :
ELLITOP针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度全自动光谱椭偏仪，波长范围覆盖紫外，可见到红外。
服务信息
服务内容 :
基于高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数（如厚度）和物理参数（如折射率n、消光系数k，或介电函数ε1和ε2），也可用于测量块状材料的光学性质。
收费标准 :
用户须知 :
无
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白国人
15201523407
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