仪器信息
规格型号 :
AT-xperFLIM
设备原值 :
98.0（万元）
产地国别 :
中国
学科领域 :
工程与技术科学基础学科
技术指标 :
扫描面积：200um×200um；光纤耦合激光器端口和空间光端口；光纤耦合激光器端口和空间光端口；405 nm 空间光路拉曼激发光、633 nm 空间光路拉曼激发光；反射谱检测模块
主要功能 :
探针台光电流测试、快速大面积扫描成像，材料分析、拉曼成像、低温恒温器等
服务信息
服务内容 :
宽禁带半导体光电测试
收费标准 :
电话沟通商议
用户须知 :
工作日
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徐宗伟
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