仪器信息
规格型号 :
JSM 7610F
设备原值 :
139.9（万元）
产地国别 :
日本
学科领域 :
材料科学
技术指标 :
二次电子像分辨率: 高加速：1.0 nm@15.0 kV
低加速：1.3 nm@1.0 kV (GB)
分析：3.0 nm@15 kV, 5 nA, WD 8mm
加速电压: 0.1 ～ 30 kV
5 轴马达驱动样品台: X:70mm Y:50mm Z:1.0 ~ 40.0 mm T:-5 ~ 70° R:360°无限
主要功能 :
日本电子株式会社
服务信息
服务内容 :
二次电子像、背散射电子像
收费标准 :
测试费用：360/小时，喷金100元/次；
用户须知 :
本设备不接受磁性粉末测试，块体样品尺寸小于30*15*10mm。测试前有义务告知样品的基本属性，如磁性、导电性、稳定性等，如为多孔材料、混凝土材料等抽真空时间较长。
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柴骁函
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