仪器信息
规格型号 :
RC2-XI
设备原值 :
107（万元）
产地国别 :
美国
学科领域 :
工程与技术科学基础学科
技术指标 :
光谱范围210-1690nm，1067个波长点；准确性：Psi=45°±0.075°，Delta=0°±0.05°；2nm的自然氧化层（硅片）30次测量的SiO2厚度标准偏差为0.002nm
主要功能 :
主要用于微纳米薄膜厚度与材料的光学常数等相关光学特性的测试与分析
服务信息
服务内容 :
主要用于微纳米薄膜厚度与材料的光学常数等相关光学特性的测试与分析
收费标准 :
电话沟通商议
用户须知 :
工作日
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胡春光
13502117681
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