技术指标 :
基本功能:包括能量过滤透射电镜成像和电子能量损失谱分析。通过K3直接探测相机技术,经过电子计数技术,采集高质量、优异信噪比的EELS谱及EFTEM像。分析材料的化学价态、电子结构、元素组成及其面分布等。能量过滤器主机:标配1)3.4k×3.4k读出幅面的K3 直接探测相机;2)BF/DF探测器及一体化的中心束挡针;3)100nS级高速静电快门;4)双EELS探测系统,能量偏移量最高2keV;5)实时零损峰(ZLP)校正;6)原位升级,使得系统能够连续采集EELS与EFTEM动态数据;7)STEMx升级,使得系统具备4D STEM数据采集与分析功能;8)高级自动能量过滤设置等。