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仪器分类:
工艺试验仪器>电子工艺实验设备>半导体集成电路工艺实验设备
享受政策:
浏览量:
发布时间:
所在地:天津
服务承诺:
客户至上 如实描述
产品详情
服务评价
成交记录
仪器信息
规格型号 :
定制
设备原值 :
138(万元)
产地国别 :
中国
学科领域 :
电子与通信技术
技术指标 :
主要技术指标:1.样品加热台稳定可达300℃ 2.膜厚监测仪的分辨率为0.1nm 3.在4英寸范围内的不均匀性低于5% 4.膜厚精确可控
主要功能 :
支持直流磁控溅射和射频磁控溅射,可用于制备金属薄膜和绝缘薄膜
服务信息
服务内容 :
样品测试
收费标准 :
电话沟通商议
用户须知 :
工作日
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李醒飞
13821828758
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