仪器信息
规格型号 :
USM1400-TL
设备原值 :
429（万元）
产地国别 :
日本
学科领域 :
物理学,材料科学,化学,自然科学相关工程与技术
技术指标 :
温度范围5k-325K, 分辨率0.02nm
主要功能 :
可以在不同温度下测量半导体的原子结构，电子能带结构，以及不同能量的电子能带结构在空间的分布。其空间分辨率为0.1nm，测量温度范围为5K-300K，能量分辨率为2mev
服务信息
服务内容 :
测量半导体的原子结构，电子能带结构，以及不同能量的电子能带结构在空间的分布。
收费标准 :
液氮温度下测试每小时500元，液氦温度下单议。
用户须知 :
样品必须是导电的半导体或者金属；表面必须具有纳米级的平整度，不能是颗粒状，而且表面不能有较大的吸附物；样品在真空中非常稳定，不能有挥发性。
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刘红军
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