仪器信息
规格型号 :
Phenom proX
设备原值 :
96（万元）
产地国别 :
荷兰
学科领域 :
材料科学
技术指标 :
型号：Phenom ProX
放大倍数：300-30,000
工作电压：5-15kV
预抽真空时间：小于15s
集成能谱EDS，探测器类型，硅漂移探测器（SDD）
主要功能 :
设备具有快速抽真空的功能，预抽真空时间：小于15s
可用于无机、有机、金属材料的表面形貌观察，表面元素分析，具有点扫描、线扫描、面扫描模式。
服务信息
服务内容 :
1）表面形貌观测，倍数300X-30000X；
2）元素能谱分析：点扫描、线扫描、面扫描；
3：背散射电子像模式，二次电子像模式。
收费标准 :
对外测试参考标准
1)表面形貌观测：250元/小时；
2）能谱点扫描、线扫描：25元/样；面扫描50元/样，能谱扫描时长记入扫描测试时长。
用户须知 :
1)所测试样品应为干燥的固体样品；
2）样品不能有磁性；
3）不导电样品请事先对样品进行喷金或喷碳处理；
4）样品尺寸：不大于1.5
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齐高璨
15022311806
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