本实验室提供的IC EMC检测，检测的前提条件是：需要将集成电路安装在PCB板上，并运行在某些指定的功能状态下，因此实验室在检测前期提供针对被测集成电路的EMC测试专用PCB板设计、投板、焊接及调试等“一站式”服务。
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项目/参数名称 |
检测标准（方法） |
说明 |
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辐射发射测量TEM小室法 |
集成电路电磁发射测量150kHz~1GHz第2部分辐射发射测量TEM小室和宽带TEM小室法IEC61967-2:2005 |
样品最大尺寸:6cm*6cm*1cm，TEM开口尺寸:9.1cm*9.1cm |
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集成电路 辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法;TEM小室(150kHz~1GHz)，宽带TEM小室(150kHz~8GHZ)SAE J1752/3 SEP2017 |
样品最大尺寸:6cm*6cm*1cm，TEM开口尺寸:9.1cm*9.1cm |
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辐射发射测量表面扫描法 |
集成电路 电磁发射测量 辐射发射测量 表面扫描法 IEC TS 61967-3: 2014 |
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传导发射测量-1Ω/150Ω直接耦合法 |
集成电路 电磁发射测量 第4部分-传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法 IEC 61967-4: 2021 RLV |
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辐射抗扰度测量-TEM小室法 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分 辐射抗扰度测量 TEM小室和GTEM小室法 IEC 62132-2: 2010 |
样品最大尺寸：6cm*6cm*1cm，TEM开口尺寸：9.1cm*9.1cm
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抗扰度测量-大电流注入法(BCI) |
集成电路 电磁抗扰度测量 150kHz-1GHz 第3部分 大电流注入法 IEC 62132-3: 2007 |
仅限特定客户使用
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抗扰度测量-直接功率注入法(RF DPI) |
集成电路 电磁抗扰度测量 150kHz-1GHz 第4部分 直接功率注入法 IEC 62132-4: 2006 |
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静电放电抗扰度(ESD) |
电磁兼容 第4-2部分 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 IEC 61000-4-2: 2008 8.3 |
只引用了标准发生器波形 |
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脉冲抗扰度测量-非同步瞬态注入法 |
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法 IEC 62215-3: 2013 |
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集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法 GB/T 43034.3-2023 |
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辐射发射测量-IC 带状线法 |
集成电路 电磁发射测量 第8部分 辐射发射测量-IC 带状线法 IEC 61967-8:2023 |
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辐射抗扰度测量-IC 带状线法 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分 辐射抗扰度测量-IC 带状线法 IEC 62132-8:2012 |
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集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分 辐射抗扰度测量-IC 带状线法 GB/T 42968.8-2023 |
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王卉松
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