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一种基于SIP芯片测试的测试系统
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来源地:天津市-天津市-滨海高新区
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    其核心成果包括:
    自动化抓取与安插:通过设定第一控制程序,测试主机可精确控制机械臂完成对SIP芯片的抓取与安插动作。该程序基于机械臂底座、抓取点及插座测试位置的相对距离设定,无需人工使用夹具校对位置,有效避免了芯片压损和焊球脱落,降低了测试成本。
    智能分类与放置:系统可根据测试数据与设定的分类标准,自动对SIP芯片进行等级分类。随后,测试主机依据第二控制程序,控制机械臂将测试完成的芯片自动叠放至对应的分类放置位置,实现了测试与分选的全流程自动化。

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      王威 

        

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