学科领域 :
材料科学,物理学,基础医学,工程与技术科学基础学科
技术指标 :
1. 高分辨率成像:最小空间分辨率≤1.5μm,最小特征分辨率≤100nm,最高几何放大倍数≥2000倍,满足微米级缺陷检测。
2. 宽范围扫描能力:最大管电压≥160kV,最大检测尺寸≥310mm×310mm,支持大尺寸样品无损检测。
3. 快速高效扫描:配备高帧率探测器(>60fps),标准扫描模式下完成1400张图片采集≤5分钟,满足高通量检测需求。
4. 专业分析软件:具备气泡测量功能,可自动计算焊层等内部气孔率。同时支持高分辨率扫描(ACT,体素≤1.2μm)与大尺寸样品扫描(PCT,样品直径≥210mm)两种模式。
5. 多轴灵活操控:系统采用≥7轴运动控制,探测器倾角≥±70°,可灵活调整位姿,实现复杂结构的最佳成像。
主要功能 :
高精度三维成像:实现≤1.5μm空间分辨率的三维无损扫描,清晰呈现芯片焊点,封装结构内部的微裂纹,气孔等缺陷。
缺陷定量分析:自动测量焊层等内部的气孔率与孔隙分布,为工艺可靠性提供量化数据。
高效与大尺寸扫描:单次标准扫描(1400张图)仅需≤5分钟,最大可检测310mm×310mm尺寸样品,兼顾效率与范围。
双模式灵活检测:具备高分辨率模式(体素≤1.2μm,针对微小器件)和大尺寸模式(样品直径≥210mm,针对大型组件)。
复杂结构适配:多轴运动控制与探测器大角度倾斜(≥±70°),支持对异形件,倾斜特征的最佳成像与三维尺寸测量。