规格型号 :

RapidXAFS1M

设备原值 :

299.8（万元）

产地国别 :

中国

学科领域 :

物理学,材料科学

技术指标 :

RapidXAFS1M型台式X射线吸收精细结构谱仪由安徽吸收谱仪器设备有限公司提供，适用于材料、催化、环境及能源等领域中元素的局域结构与价态分析。仪器配备高亮度微焦点X射线源，输出稳定，能量范围覆盖5–25 keV，满足过渡金属及部分稀土元素K/L边测试需求。采用高精度单色器，实现高分辨率XANES与EXAFS谱图采集，能量分辨率优于1 eV。具备透射与荧光两种探测模式，荧光模式采用高灵敏度硅漂移探测器（SDD），适合痕量样品分析。仪器集成自动样品位移平台及温控附件，可进行常温至高温（选配）或气氛控制下的原位测试。内置控制系统与专用分析软件，支持能量校准、背景扣除、傅里叶变换及结构拟合分析，操作简便，数据处理符合国际XAFS分析规范。

主要功能 :

该仪器用于测试材料中特定元素的局域结构信息和化学价态。可进行XANES和EXAFS分析，用于研究原子间距离、配位数、价态变化等。广泛应用于催化剂、电池材料、环境样品等的微观结构分析，尤其适合对金属中心结构敏感的体系。具备透射和荧光双模式，适用于不同浓度样品。

服务内容 :

提供X射线吸收近边结构（XANES）和扩展X射线吸收精细结构（EXAFS）测试服务。可分析样品中特定元素的化学价态、配位结构、键长变化等，适用于金属催化剂、锂电材料、合金、纳米颗粒等体系。支持透射和荧光模式测试，适用于固体、粉末、薄膜等多种样品形态。

收费标准 :

基本测试费用： 每次XANES/EXAFS测试（单样品）：约300–500元/次 每个元素的详细分析（多元素分析）：约500–800元/次 附加费用： 高浓度样品测试（需稀释或特殊处理）：约200元/次 原位测试（加热/气氛控制）：约500–1000元/次 备注：费用根据样品数量和测试复杂度有所不同，特殊项目（如低温测试、同步辐射合作）另议。

用户须知 :

样品要求：样品需无强磁性、无强吸收干扰。液体样品需预先固化或封装。 操作要求：用户需提供测试样品的详细信息，如元素类型、预计浓度及研究目标。 安全提示：仪器使用过程中涉及X射线辐射，操作人员必须接受相关安全培训并佩戴合适防护设备。