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晶圆清洗湿法刻蚀机
仪器分类:工艺试验仪器>电子工艺实验设备>半导体集成电路工艺实验设备
浏览量: 发布时间:
所在地:天津
服务承诺:客户至上 如实描述
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  • 仪器信息
    规格型号 :
    ASEM-06
    设备原值 :
    225.0(万元)
    产地国别 :
    中国
    学科领域 :
    材料科学,电子与通信技术,工程与技术科学基础学科
    技术指标 :
    设备能够实现基片清洗,光刻胶涂覆 / 剥离 / 去胶,湿法刻蚀功能。适配2–12英寸晶圆及不规则样品,兼容Si,蓝宝石,SiC,GaAs,GaN,玻璃等材料。极限真空<100Pa(单片腔体),压升率≤50Pa/min。工艺腔体标配2个清洗槽+1个漂洗槽+1个干燥腔,可扩展至8槽。主轴转速0–3000rpm,精度±10rpm,加速度可编程。加热系统室温–200℃,双温区独立控温,精度±0.5℃(槽式)/±1℃(单片式)。化学液供给支持DHF,SC1,SC2,IPA,BOE等,4路独立输送,流量50–2000mL/min,精度±2%。气路系统N2/CDA流量0.1–50SLM,精度±1%,控压0.1–0.6MPa。兆声波功率80–300W可调,频率0.8–1.2MHz。工艺均匀性片内≤±3%,片间≤±5%。颗粒去除率≥95%@0.3μm,颗粒添加量≤30颗/片。干燥方式支持IPA干燥,热氮甩干,旋转甩干,无水痕残留。控制方式PLC+10英寸触摸屏,支持100组配方编程,实时监控温度,时间,转速,数据存储≥1年。供电AC220V/50Hz,功率≤5kW,接地电阻<4Ω。
    主要功能 :
    设备兼容多种半导体及光电材料,适用于实验室及小批量生产场景下的晶圆表面清洗,湿法刻蚀,光刻胶去除及表面改性等工艺开发。可实现清洗,刻蚀,漂洗,干燥全流程自动化控制。流量可调,压力可控,满足不同化学液及气氛条件下的工艺需求。衬底支持水平移动与自动旋转,可灵活调整晶圆位置,实现均匀清洗与刻蚀。
    服务信息
    服务内容 :
    样品清洗服务:按客户工艺需求,在Si,蓝宝石,SiC,GaAs等衬底上完成表面清洗,湿法刻蚀,光刻胶去除及钝化处理,提供符合测试规格的样品。 清洗/刻蚀方案开发:根据材料特性与器件结构,开发定制化湿法工艺方案,包括有机残留去除,自然氧化层腐蚀,金属污染清洗及选择性刻蚀。 工艺验证与优化:协助客户完成新工艺导入验证,提供DOE实验设计与数据分析支持,确保工艺稳定性和可重复性。
    收费标准 :
    按机时计费:600/h
    用户须知 :
    预约前准备:用户需提前提交样品信息,测试目标,经确认可行性后方可预约,严禁擅自更改设备参数。
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