技术指标 :
设备能够实现基片清洗,光刻胶涂覆 / 剥离 / 去胶,湿法刻蚀功能。适配2–12英寸晶圆及不规则样品,兼容Si,蓝宝石,SiC,GaAs,GaN,玻璃等材料。极限真空<100Pa(单片腔体),压升率≤50Pa/min。工艺腔体标配2个清洗槽+1个漂洗槽+1个干燥腔,可扩展至8槽。主轴转速0–3000rpm,精度±10rpm,加速度可编程。加热系统室温–200℃,双温区独立控温,精度±0.5℃(槽式)/±1℃(单片式)。化学液供给支持DHF,SC1,SC2,IPA,BOE等,4路独立输送,流量50–2000mL/min,精度±2%。气路系统N2/CDA流量0.1–50SLM,精度±1%,控压0.1–0.6MPa。兆声波功率80–300W可调,频率0.8–1.2MHz。工艺均匀性片内≤±3%,片间≤±5%。颗粒去除率≥95%@0.3μm,颗粒添加量≤30颗/片。干燥方式支持IPA干燥,热氮甩干,旋转甩干,无水痕残留。控制方式PLC+10英寸触摸屏,支持100组配方编程,实时监控温度,时间,转速,数据存储≥1年。供电AC220V/50Hz,功率≤5kW,接地电阻<4Ω。