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紫外激光晶圆划片机
仪器分类:分析仪器>电子光学仪器>电子探针
浏览量: 发布时间:
所在地:天津
服务承诺:客户至上 如实描述
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    规格型号 :
    AS-5360
    设备原值 :
    109.85(万元)
    产地国别 :
    中国
    学科领域 :
    信息科学与系统科学,物理学,电子与通信技术
    技术指标 :
    1 温度范围10 K ~ 350 K 2 温度控制稳定性:≤ ± 10 mK @ 11 K ~ 350 K 3 显微镜系统光学分辨率优于4μm。 4 直流探针RF测量时,探针自带有≥50Ω匹配阻抗的SAM接头,为射频测量提供很好的匹配阻抗,DC-1GHz时:反射损耗S11,S22<-20dB;传输损耗S12/S21<±1dB。 5 探针台的探针臂移动范围: X方向不小于2英寸, Y方向不小于1英寸, Z方向不小于 0.7英寸 . 6 配置分子泵组一台,其中分子泵,干泵,全量程真空规为同一制造商生产,需配套波纹管及卡箍,可使探针台主机的真空度<5×10-5 Torr. 7 分体式循环水冷机一套,制冷功率≥8KW,温度控制精度:不低于±1℃
    主要功能 :
    本设备主要用于半导体材料及微纳光电器件的性能表征。它通过在超高真空腔体内集成精密温控系统,模拟器件在极端严苛环境下的工作状态,并在不进行管壳封装的情况下,直接对晶圆或芯片开展非破坏性的性能评估。 在电学表征方面,具有微米级精度的探针定位系统,可实现对微小单元极弱电流信号的稳定采集,用于分析载流子输运,接触电阻及器件稳定性。在光学表征方面,通过配置的高透过率光学窗口,支持引入外部激光激励或提取器件自发辐射信号,从而实现在变温环境下对光电转换效率,响应光谱及激射特性等参数的同步测试。
    服务信息
    服务内容 :
    用于半导体材料及微纳光电器件的性能表征
    收费标准 :
    1000/小时
    用户须知 :
    用户需提前联系管理员沟通
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      王婷 

        

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